• PCT高壓加速老化/加速壽命試驗箱

    PCT高壓加速老化/加速壽命試驗箱是用於測試半導體封裝之溼氣能力✘✘•,待測產品被置於嚴苛之溫度╃◕│•✘、溼度及壓力下測試✘✘•,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體✘✘•,多層線路板,光伏元件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等產品之密封效能的檢測,測試其製品的耐壓性,氣密性↟◕◕◕。

    更新時間▩₪▩:2019-03-11

    廠商性質▩₪▩:生產廠家

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